導熱系數測試儀是測量材料導熱系數的儀器，材料的導熱系數不僅與材料的物質種類有關，而且與它的微觀結構、填料含量等有密切聯系。在科學實驗和工程設計中，所用材料的導熱系數都需要用實驗的方法精確測定。導熱系數的測定方法發展到現在已經有了許多種，它們有不同的適用領域、測量范圍、精度、準確度和試樣尺寸要求等，不同方法對同一樣品的測量結果可能會有較大的差別，因此選擇合適的測試方法是首要的。
 

　　目前導熱系數的測定方法分為穩態法和非穩態法兩大類，具有各自不同的測試原理。在導熱硅膠行業中，常見的測試方法是穩態熱板法，瞬態平面熱源法。導熱系數測試儀，兩種測試方法的說明如下：
 

　　一、薄型導熱固態電絕緣材料熱傳輸特性的標準測試方法
 

　　該方法采用的是通常所說的穩態熱流法，其測試原理是將一定厚度的樣品置于上下兩個平板間，對樣品施加一定的熱流量和壓力，使用熱流傳感器測量通過樣品的熱流、測試樣品的厚度、熱板/冷板間的溫度梯度，然后得出不同厚度下對應的熱阻數據作直線擬合得出樣品的導熱系數。
 

　　這種方法的優點是：
 

　　①可以測試產品的熱阻與導熱系數；
 

　　②特別適合模擬產品在實際工況下的使用狀態。缺點是對產品的厚度有一定要求；
 

　　③接觸熱阻會影響測試結果；
 

　　④為了到達穩態，測試所需時間較長。
 

　　二、導熱系數測試儀熱傳導率和熱擴散率的測定
 

　　瞬態平面熱源法(TPS)是目前研究材料導熱性能的方法中比較方便、精確的一種，由熱線法改進而來。這種方法采用一個瞬間熱平面探頭(HotDisk探頭)，我們也將其稱之為HotDisk法。HotDisk探頭由熱阻性材料鎳制成，包覆有絕緣材料(聚酰亞胺，云母等)，探頭帶自加熱功能。
 

　　這種方法的原理是，將帶有自加熱功能的溫度探頭放置于樣品中，測試時在探頭上施加一個恒定的加熱功率，使其溫度上升。鎳的熱電阻系數—溫度和電阻的關系呈線性關系，即可通過了解電阻的變化可以知道熱量的損失，從而反映樣品的導熱性能。然后測量探頭本身和與探頭相隔一定距離的圓球面上的溫度隨時間上升的關系，通過數學模型擬合同時得到樣品的導熱系數和熱擴散系數。